吹塑膜阻隔層厚度的精確測定——矩形框架式掃描儀克服了往復(fù)式電容測厚儀和其它感應(yīng)器的局限

      當(dāng)共擠出阻隔膜層時，保持吹塑薄膜質(zhì)量的一種方法是實時膜厚控制，當(dāng)膜厚數(shù)據(jù)被迅速地傳送到工藝控制系統(tǒng)時，實時膜厚控制是最為有效的。許多吹膜生產(chǎn)線采用的是往復(fù)式電容測厚儀，當(dāng)它被放在靠近膜泡的地方時，由于受到過程熱量對材料介電常數(shù)的影響，常用阻隔材料如尼龍和EVOH的膜厚測量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。往復(fù)式電容測厚儀以外另一種手段是g核子感應(yīng)器，當(dāng)它繞膜泡旋轉(zhuǎn)時，其精確性會受到掃描頭位置局限性的影響。這是因為g射線感應(yīng)器固有靈敏度受到與膜間距和膜泡微小擺動的限制。
        
        位于美國馬塞諸塞州格羅斯特市的巴頓菲爾·格羅斯特工程公司開發(fā)出創(chuàng)新的阻隔薄膜厚度掃描儀，它精度高，能迅速將數(shù)據(jù)傳送給工藝控制器。名為矩形框架式膜厚掃描儀，它采用一個固定的b探測器，在任何溫度都能無接觸式地對多層薄膜進(jìn)行測量，并對于所有的阻隔性樹脂均有效。同時它還能通過該公司的ExtrolTM專利工藝控制系統(tǒng)，提供實時的控制。
        

矩形框架式膜厚掃描儀采用中繼 方式，和其它測厚儀相比，數(shù)據(jù) 傳輸控制速度顯著提高。

        矩形框架式膜厚掃描儀安裝在旋轉(zhuǎn)往復(fù)式牽引裝置和夾輥間，測量夾泡后的平折膜厚。掃描儀的b探測器安裝在矩形的框架中，薄膜通過框架后分離。探測器能精確地掃描薄膜的兩面，并在牽引裝置只是旋轉(zhuǎn)90度后傳輸數(shù)據(jù)。
        
        據(jù)巴頓菲爾·格羅斯特公司的吹膜產(chǎn)品經(jīng)理Carl Johnson先生介紹，大多數(shù)傳統(tǒng)的固定測厚的感應(yīng)器需要牽引裝置完全旋轉(zhuǎn)360度后才能計算薄膜厚度和傳輸數(shù)據(jù)，這個過程可能需花20分鐘的時間。所以矩形框架式膜厚掃描儀不僅精確，而且采用中繼方式傳輸工藝控制數(shù)據(jù)明顯要比其它感應(yīng)器迅速，僅需5到6分鐘，剛好就在牽引裝置完成第一次旋轉(zhuǎn)之前。
        
        掃描儀采用了復(fù)雜的信號處理算法，能使巴頓菲爾獨有的Extrol控制系統(tǒng)將薄膜兩側(cè)的厚度數(shù)據(jù)精確地分開，確定出厚度精度。Extrol控制器以所獲數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，調(diào)整工藝參數(shù)，實現(xiàn)或保持一定的薄膜厚度，當(dāng)使用重力測定和自動數(shù)據(jù)控制時，就能顯著地減少膜厚的波動。
        
        矩形框架式膜厚掃描儀通常被設(shè)計用來膜厚測量，但也可附帶不同的感應(yīng)器，例如紅外線或原子射線，以提供有關(guān)阻隔膜層厚度的數(shù)據(jù)，并進(jìn)行分離。掃描儀的非接觸式操作使它極為適合用于對薄膜表面質(zhì)量敏感的場合之中。
        
        矩形框架式膜厚掃描儀消除了采用電容式料泡測厚儀時電介性波動的問題。與其它探測器相比，該探測器具有信噪比更強、時間常數(shù)更快和壽命更長的其它優(yōu)勢，它們都能造就更精確和更穩(wěn)定的測量。
        
        Carl Johnson先生介紹，矩形框架式膜厚掃描儀在價格上和往復(fù)式電容測厚儀相比具有競爭力。對于巴頓菲爾·格羅斯特公司新吹膜生產(chǎn)線，矩形框架式膜厚掃描儀為可選裝置，同時它也可對巴頓菲爾配有Extrol 6032工藝控制系統(tǒng)的生產(chǎn)線進(jìn)行改造。